ลือ iPhone Duo 2 ทดสอบ Face ID ใต้จอในเครื่องต้นแบบแล้ว

รายงานจาก Mark Gurman ระบุว่า Apple เริ่มทดสอบต้นแบบของ iPhone Duo 2 ภายในบริษัทแล้ว โดยจุดที่น่าสนใจคือเครื่องรุ่นถัดไปอาจมาพร้อมระบบ Face ID ที่ฝังอยู่ใต้หน้าจอด้านนอก แทนการใช้เซ็นเซอร์แบบที่มองเห็นได้บนตัวเครื่องเหมือนบางแนวทางในอดีต

แหล่งข่าวชี้ว่า Apple กำลังเดินหน้าพัฒนาฮาร์ดแวร์รุ่นต่อไปควบคู่ไปกับการเปิดตัว iPhone Duo รุ่นแรก ซึ่งสะท้อนว่าบริษัทมีแผนสานต่อผลิตภัณฑ์กลุ่มใหม่นี้อย่างจริงจัง ไม่ได้มองเป็นเพียงการทดลองตลาดระยะสั้น

ประเด็นของ Face ID ใต้จอมีความสำคัญ เพราะหากทำได้สำเร็จจะช่วยให้ด้านหน้าของอุปกรณ์ดูเรียบและเต็มพื้นที่หน้าจอมากขึ้น ลดรอยเจาะหรือองค์ประกอบที่รบกวนการรับชม รวมถึงสอดคล้องกับแนวโน้มการออกแบบสมาร์ตโฟนระดับพรีเมียมที่ต้องการซ่อนฮาร์ดแวร์สแกนใบหน้าให้แนบเนียนที่สุด

อย่างไรก็ตาม รายงานนี้ยังอยู่ในระดับข้อมูลจากการทดสอบต้นแบบ ไม่ใช่การยืนยันสเปกสุดท้ายของสินค้า จึงยังมีโอกาสที่ Apple จะปรับเปลี่ยนแผนก่อนเปิดตัวจริงในปีหน้า ทั้งในด้านดีไซน์และวิธีติดตั้งเซ็นเซอร์

โดยภาพรวม ข่าวนี้สะท้อนว่ารุ่นสืบต่อของ iPhone Duo กำลังถูกพัฒนาอย่างต่อเนื่อง และ Apple อาจใช้เจเนอเรชันถัดไปเป็นเวทีผลักดันเทคโนโลยีหน้าจอและระบบยืนยันตัวตนแบบใหม่ให้ก้าวหน้ากว่าเดิม